röntgen fluorescentie spectrometrie
ED-XRF WD-XRF element analyse
AFS, AAS, OES, ICP, LC, GCröntgen fluorescentie spectrometrie
ED-XRF WD-XRF element analyse
AFS, AAS, OES, ICP, LC, GC

spuitgiet optimalisatie systemen,
spuitgiet simulatie
kostprijscalculatiesoftware
proefspuitsoftware

extrusie simulatie
thermoforming simulatie
blowmoulding simulatie

Langmuir(-Blodgett) troggen
dip coaters
surface potential sensor
(micro)Brewster angle microscope
polarization modulation IRRAS
interfacial shear rheometers
surface plasmon resonance

impact testers
diktemeters voor folie

oppervlaktespanning- en
contacthoekmeters
bubble tensiometers
schuimtester
reinheidstesters

heating microscope
zuurstofbom calorimetrie
thermische analyse